超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓和波形通用技術(shù)要求，超低頻高壓發(fā)生器輸出峰值電壓應(yīng)在額定電壓范圍內(nèi)可調(diào)，輸出電壓和波形應(yīng)滿足如下要求：

  1、輸出電壓峰值不穩(wěn)定度小于1%;

  2、輸出電壓頻率不穩(wěn)定度小于3%;

  3、輸出正弦電壓的波形畸變率小于5%;

  4、輸出余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間不大于10ms;

  5、輸出電壓的正/負(fù)半周周期的絕對(duì)誤差小于 0.5s，正/負(fù)半波峰值偏差小于5%。

  超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓和波形檢驗(yàn)方法：

  電壓峰值不穩(wěn)定度試驗(yàn)，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于 1.0%的電壓測量裝置，在60min 內(nèi)測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0倍額定值時(shí)，分10次測量輸出電壓峰值。通過計(jì)算，輸出電壓峰值不穩(wěn)定度應(yīng)滿足1的要求。

  電壓頻率穩(wěn)定度試驗(yàn)，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測量裝置，在60min內(nèi)測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0 倍額定值時(shí)，分10 次測量輸出電壓頻率。通過計(jì)算，輸出電壓頻率不穩(wěn)定度應(yīng)滿足2的要求。

  正弦電壓的波形畸變率試驗(yàn)，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測量裝置，測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出正弦電壓的波形畸變率應(yīng)滿足3的要求。

  余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間試驗(yàn)，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接電容量為50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測量裝置，測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至 0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)滿足4的要求。

  正/負(fù)半周周期對(duì)稱性試驗(yàn)，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測量裝置，測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓的正/負(fù)半周周期的絕對(duì)誤差應(yīng)滿足5的要求。